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詳細介紹
MD-1型粉塵粒度分析
一、產品介紹
本產品采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。讀數直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數據。
主要用于實驗室測定粉塵粒度分布。
二、產品參數
（1）粉塵粒度分布測定范圍：0～150µm。測定粉塵累積質量篩上分布，粉塵粒度分級為
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
（2）測定誤差：d＜40µm時，粉塵粒度分布重復測定誤差≤10%；
（3）工作電源：220VAC。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg。
三、產品特點
（1）采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。
（2）讀數直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。
（3）儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數據。
1.顯微鏡法(Microscopy)
SEM、TEM；1nm～5μｍ范圍。
適合納米材料的粒度大小和形貌分析。
2.沉降法(Sedimentation Size Analysis)
沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從斯托克斯定律來實施測定的，此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm～20μｍ的顆粒。
MD-1型粉塵粒度分析儀
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